光学性能测试 光学性能测试

机械式光开关

可实现多个光学测试对象或多种光学性能的自动化测试

可编程,支持时间、按键和程序控制多种方式切换
低插入损耗,低偏振相关损耗,通道一致性好
高可重复性,使用寿命超过1000万次
切换时间短,低于30ms
平台+模块化设计
支持远程控制等多种控制方式

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产品概述

光开关在任何自动化光学测试系统中有着不可替代的重要作用,是其中的核心器件,可以实现多个光学测试对象或者多种光学性能的自动化测试,避免因多次插拔光连接器而造成各种测量不确定性。

Dimension为光学自动化测试系统提供了系列高性能OSW光开关模块,这些模块非常适用于实验室或高严格的制造生产环境,配合Dimension的通用光学测试平台,OSW光开关可以在程序控制下自动路由光信号,支持对多通道和多个光学器件进行并行测量,显著减少测试时间,从而提升测试仪器的使用效率,降低整体测试成本。


主要特性

可编程,支持时间、按键和程序控制多种方式切换
低插入损耗,低偏振相关损耗,通道一致性好
高可重复性,使用寿命超过1000万次
切换时间短,低于30ms
平台+模块化设计
支持远程控制等多种控制方式


主要应用

光路切换
光环路保护和切换
光纤网络远程监控 
光器件测试与研究


可编程,支持多种触发方式

OSW光开关通过编程功能可以灵活设置光路切换触发方式,可以通过外部 TRIG信号,等待设定时间或者触摸屏、实体按键等多种方式触发光开关切换,为后续自动化程序开发灵活提供各种接口。


高可重复性

OSW光开关的切换次数可以达到1000万次,MEMS光开关可以达到10亿次。插入损耗随机切换100次的重复性小于0.02dB,为用户提供高度可靠的光路【1】


低插入损耗,低偏振相关性

通道一致性好各通路插入损耗小于1.0dB,偏振相关损耗小于0.05dB【2】


平台+模块化设计,支持多种控制方式

Dimension的通用测试平台,可以兼容包含OSW光开关在内的多种功能测试模块,具有可热插拔、可编程、可扩展性强、易于维护和管理、综合成本低等显著优势。支持网络、USB、触摸屏和实体按键等多种控制方式。

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性能参数

 参数机械式光开关MEMS光开关
  波长范围1260nm~1650nm1250nm~1670nm
  测试波长1310nm/1550nm
          [2]
  插入损耗
Max:1.2dBMax:1.3dB
  回波损耗>50dB(SM/APC);>30dB(MM/PC                            >50dB(SM/APC);>30dB(MM/PC
  通道串扰SM>70dB,MM>55dB                                        SM>50dB,MM>30dB
重复度<±0.02dB<±0.02dB
切换次数≥10次≥10次
切换时间  10ms*(n-m)+5ms
  10ms*(n-m)+30ms
   rom port m to n,n>m
   from port n to m,n>m
min 5ms
max 10ms
输入电压AC90~260V/50HZ
工作温度10℃~40℃
存储温度40℃~70℃
  尺寸  [3]机箱:359mm×274mm×115mm单插槽模块:285mmX133mmX35mm双插槽模块:285mmX133mmX71mm

备注:
[1]机械式光开关切换寿命大于1000万次 ,MEMS切换寿命大于10亿次。
[2]不包括连接器引入的插入损耗,插入损耗和光开关端口数有关,机械式光开关的插入损耗见下表。机械式偏振相关损耗小于0.05dB,MEMS小于0.1dB。
[3]根据光开关端口数模块有单插槽、双插槽和多插槽,其中多插槽的宽度尺寸是单插槽宽度的叠加。


订购信息

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